Возможности метода дифракции обратнорассеянных электронов для анализа структуры деформированных материалов

Киев: Наукова думка, 2014. — 104 с.
ISBN: 978-966-00-1400-8
Монография посвящена применению сканирующего электронного микроскопа, работающего в режиме дифракции обратнорассеянных электронов (ДОЭ/EBSD), для определения параметров ориентировки индивидуальных зерен, текстуры в локальной области образцов, идентификации фаз на поверхности объемных поликристаллов, разориентировки границ зерен и др.
Рассмотрены методы получения и анализа данных ДОЭ (EBSD) на примере металлических сплавов в субмикрокристаллическом и наноструктурном состояниях. Даны рекомендации по режимам подготовки образцов, процедурам сбора данных и способам обработки полученного массива. Для исследователей, занимающихся изучением структурных состояний после различных обработок, а также преподавателей и студентов при подготовке курсов по физике твердого тела, металлофизике, материаловедению, наноструктурным материалам.СодержаниеТЕОРИЯ ДОЭ (EBSD).
ПОДГОТОВКА ОБРАЗЦОВ ДЛЯ ДОЭ (EBSD).
СЪЕМКА.
АНАЛИЗ ПОЛУЧЕННЫХ ДАННЫХ. РЕКОНСТРУКЦИЯ СТРУКТУРЫ, КАЧЕСТВЕННЫЙ И КОЛИЧЕСТВЕННЫЙ АНАЛИЗЫ.